| Ders Adı | Kodu | Yarıyıl | T+U Saat | Kredi | AKTS |
|---|---|---|---|---|---|
| Yüzey Analiz Teknikleri | ANK 511 | 0 | 3 + 0 | 3 | 6 |
| Ön Koşul Dersleri | |
| Önerilen Seçmeli Dersler | |
| Dersin Dili | Türkçe |
| Dersin Seviyesi | YUKSEK_LISANS |
| Dersin Türü | Seçmeli |
| Dersin Koordinatörü | Prof.Dr. İLKAY ŞİŞMAN |
| Dersi Verenler | |
| Dersin Yardımcıları | |
| Dersin Kategorisi | Diğer |
| Dersin Amacı | Bir katının yüzey atomlarının özellikleri diğer kısımlarından farklılık gösterir. Dolayısıyla, bu özelliklerin karakterizasyonu büyük öneme sahiptir. Birçok proseste, olayda ve teknolojik öneme sahip materyallerde (kataliz, korozyon, adhezyon, mikroelektronikler, kompozitler, ince filmler ve katı yüzey reaksiyonları gibi) katı yüzeyler önemli roller oynar. Bahsi geçen bu örneklerin hepsinde de bir amaç doğrultusunda yüzeyi değişen madde için yüzey analizi teknolojik bakımdan gereklidir. Böyle bir analizi gerçekleştirecek kişi için gerekli olan şey, mevcut yüzey analiz yöntemleri içerisinden uygun olanı seçmesini sağlayacak temel bilgi birikimine sahip olmasıdır. Bu nedenlerden ötürü, öğrencileri bu konuda bilgilendirmek yararlı olacaktır. |
| Dersin İçeriği | Giriş, Fotoelektron Spektroskopisi (XPS), Auger Elektron Spektroskopisi (AES), Statik İkincil-İyon Kütle Spektroskopi (SSIMS), Dinamik İkincil-İyon Kütle Spektroskopi (SIMS), X-Işını Floresans Spektroskopisi (XRF), Taramalı Elektron Mikroskopi (SEM), Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopi (EDXS), X-Işını Kırınım Yöntemi (XRD), Yüzey Arttırılmış Raman Spektroskopi (SERS), Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM), Tekniklerin karşılaştırılması. |
| # | Ders Öğrenme Çıktıları | Öğretim Yöntemleri | Ölçme Yöntemleri |
|---|---|---|---|
| 1 | Fotoelektron Spektroskopisi (XPS) hakkında bilgi sahibi olur. | Anlatım, Beyin Fırtınası, | |
| 2 | Taramalı Elektron Mikroskopi (SEM) hakkında bilgi sahibi olur. | Soru-Cevap, Anlatım, | |
| 3 | X-Işını Kırınım Yöntemi (XRD) hakkında bilgi sahibi olur. | Soru-Cevap, Anlatım, | |
| 4 | Yüzey Arttırılmış Raman Spektroskopi (SERS) hakkında bilgi sahibi olur. | Anlatım, | |
| 5 | Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ile Taramalı Tünelleme Mikroskobunu (STM) karşılaştırır. | Anlatım, | |
| 6 | Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopi (EDS) hakkında bilgi sahibi olur. | Anlatım, |
| Hafta | Ders Konuları | Ön Hazırlık |
|---|---|---|
| 1 | Giriş | Sayfa 1-5 |
| 2 | Fotoelektron Spektroskopisi (XPS) | Sayfa 6-32 |
| 3 | Auger Elektron Spektroskopisi (AES) | Sayfa 32-49 |
| 4 | Statik İkincil-İyon Kütle Spektroskopi (SSIMS) | Sayfa 86-105 |
| 5 | Dinamik İkincil-İyon Kütle Spektroskopi (SIMS) | Sayfa 106-121 |
| 6 | X-Işını Floresans Spektroskopisi (XRF) | Sayfa 181-193 |
| 7 | Taramalı Elektron Mikroskopi (SEM) | Sayfa 194-207 |
| 8 | Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopi (EDS) | Sayfa 194-207 |
| 9 | ARA SINAV | |
| 10 | X-Işını Kırınım Yöntemi (XRD) | Sayfa 211-212 |
| 11 | Yüzey Arttırılmış Raman Spektroskopi (SERS) | Sayfa 254-264 |
| 12 | Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) | Sayfa 276-283 |
| 13 | Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM) | Sayfa 284-290 |
| 14 | Tekniklerin karşılaştırılması | Sayfa 291-294 |
| Kaynaklar | |
|---|---|
| Ders Notu | [1] BUBERT, H. and JENETT, H., “Surface and Thin Film Analysis: Principles, Instrumentation, Applications”, Wiley-VCH Verlag GmbH, 2002. |
| Ders Kaynakları | [2] MILLING, A.J. “Surface Characterization Methods”, Marcel-Dekker, 1999. [3] BIRDI, K.S., “Scanning Probe Microscopes”, CRC PRESS, 2003. |
| Sıra | Program Çıktıları | Katkı Düzeyi | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | |||
| 1 | Yaşadığı toplumun bilgi toplumu olmasına katkıda bulunmak, toplumsal, bilimsel, kültürel ve etik sorunlara çözüm sunmak amaçlarıyla alanındaki bilimsel, teknolojik, sosyal veya kültürel ilerlemeleri ulusal ve uluslararası bilimsel ortamlarda (toplantılarda) tanıtır. | ||||||
| 2 | Alanında bilimsel araştırma yaparak bilgiye genişlemesine ve derinlemesine ulaşır, alanında güncel teknik ve yöntemler ile bunların kısıtları hakkında kapsamlı bilgiye sahip olup ve elde ettiği bilgiyi değerlendirir, yorumlar ve uygular. | ||||||
| 3 | Alanı ile ilgili problemleri tanımlar ve formüle eder, yeni ve/veya özgün fikir ve yöntemler geliştirir; karmaşık sistem veya süreçleri tasarlar ve tasarımlarında yenilikçi/alternatif çözümler ile gelişmekte olan yenilikçi yöntemleri kullanır. | ||||||
| 4 | Kuramsal, deneysel ve modelleme esaslı araştırmaları tasarlar ve uygular, belirsiz, sınırlı ya da eksik verileri bilimsel yöntemlerle tamamlar; verilerin toplanması, yorumlanması, duyurulması aşamalarında ve mesleki tüm etkinliklerde toplumsal, bilimsel ve etik değerleri gözetir. | ||||||
| 5 | Alanındaki uygulamaların sosyal, çevresel, sağlık, güvenlik, hukuki boyutlarını ve iş hayatı uygulamalarını bilir ve bunların getirdiği kısıtların farkındadır. Disiplin içi ve çok disiplinli takımlarda etkin bir biçimde birlikte ve ya bağımsız çalışabilir ve sorumluluk alır. | ||||||
| 6 | Analitik kimya programı için gerekli lisans düzeyi yeterliliklerini temel alarak, iş ve laboratuvar güvenliği yanında çevre koruma bilincine sahip olur. Aynı ya da farklı bir alanda bilgilerini uzmanlık düzeyinde geliştirir, derinleştirir, analiz eder ve yorumlar. | ||||||
| 7 | Analitik kimya programı alanındaki temel ve modern cihazlar hakkında uygulamalı ve teorik bilgilere sahip olup, bu yöntemlerle akademik düzeyde kimya deneyleri gerçekleştirir elde ettiği sonuçları analiz edebilir ve değerlendirebilir. | ||||||
| # | Ders Öğrenme Çıktılarının Program Çıktılarına Katkısı | PÇ 1 | PÇ 2 | PÇ 3 | PÇ 4 | PÇ 5 | PÇ 6 | PÇ 7 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | Fotoelektron Spektroskopisi (XPS) hakkında bilgi sahibi olur. | |||||||
| 2 | Taramalı Elektron Mikroskopi (SEM) hakkında bilgi sahibi olur. | |||||||
| 3 | X-Işını Kırınım Yöntemi (XRD) hakkında bilgi sahibi olur. | |||||||
| 4 | Yüzey Arttırılmış Raman Spektroskopi (SERS) hakkında bilgi sahibi olur. | |||||||
| 5 | Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ile Taramalı Tünelleme Mikroskobunu (STM) karşılaştırır. | |||||||
| 6 | Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopi (EDS) hakkında bilgi sahibi olur. |
| Değerlendirme Sistemi | |
|---|---|
| Yarıyıl Çalışmaları | Katkı Oranı |
| 1. Ödev | 50 |
| Toplam | 50 |
| 1. Final | 50 |
| 1. Yıl İçinin Başarıya | 50 |
| Toplam | 100 |
| AKTS - İş Yükü Etkinlik | Sayı | Süre (Saat) | Toplam İş Yükü (Saat) |
|---|---|---|---|
| Ders Süresi (Sınav haftası dahildir: 16x toplam ders saati) | 16 | 3 | 48 |
| Sınıf Dışı Ders Çalışma Süresi(Ön çalışma, pekiştirme) | 16 | 3 | 48 |
| Ara Sınav | 1 | 15 | 15 |
| Ödev | 1 | 10 | 10 |
| Performans Görevi (Seminer) | 1 | 10 | 10 |
| Final | 1 | 20 | 20 |
| Toplam İş Yükü | 151 | ||
| Toplam İş Yükü / 25 (Saat) | 6,04 | ||
| Dersin AKTS Kredisi | 6 | ||