Ders Adı Kodu Yarıyıl T+U Saat Kredi AKTS
Advanced Nanocharacterization Techniques NMB 506 0 3 + 0 3 6
Ön Koşul Dersleri
Önerilen Seçmeli Dersler
Dersin Dili İngilizce
Dersin Seviyesi YUKSEK_LISANS
Dersin Türü Seçmeli
Dersin Koordinatörü Dr.Öğr.Üyesi UBEYD TOÇOĞLU
Dersi Verenler Dr.Öğr.Üyesi ABDULKADİR KIZILASLAN,
Dersin Yardımcıları
Dersin Kategorisi Genel Eğitim
Dersin Amacı

Bu dersin amacı, temel mikro/nano yapısal malzeme ve yüzey karakterizasyon teknikleri ve bu alandaki gelişmelerin anlatılmasıdır. Nanomalzemelerin özellik–yapı–performans ilişkilerini tanımlamak nanoteknolojinin en temel ilgi alanı olduğundan, bu ders içeriğinde analitik yapı analiz ve karakterizasyon tekniklerinin ayrıntılı incelenmesi de amaçlanmıştır. Malzeme bilimi boyutsal olarak mikro ölçekten nano ölçeğe evrilirken, ihtiyaç duyulan analiz süreçlerinin geleneksel mikro ölçekli karakterizasyon tekniklerinin nano ölçekli tekniklere dönüşümü ve yeni tekniklerin bilinmesi esastır.

Dersin İçeriği

Malzemelerle elektronların, iyon ve fotonların etkileşimleri, Nano-ölçekte elektronik, kimyasal ve mekanik algılama ve görüntüleme, Kompozit Yüzey Analizi: X-ray Fotoelektron Spektroskopisi, iyon Kütle Spektroskopisi, Auger Elektron Spektroskopisi, Yüzey karakterizasyonu ve yüzey geriliminin belirlenmesi, Mikroskopik Teknikler: TEM, SEM, Prop teknikleri: STM, AFM, SNOM, İyon Demeti Teknikleri: LEISS, RBS, Rezonans Spektroskopisi: Kızılötesi ve Raman spektroskopi, Absorpsiyon ve Rezonans Absorpsiyon Spektroskopileri: NMR, Elektrokimyasal Teknikler: Voltametrik teknikler, AC Alternatif Direnç Analizi, Karakterizasyon stratejileri ve yöntem seçimi.

# Ders Öğrenme Çıktıları Öğretim Yöntemleri Ölçme Yöntemleri
1
Hafta Ders Konuları Ön Hazırlık
1 Elektronların, iyon ve fotonların malzeme ile etkileşimlerinin temel prensipleri, temel enstrümanlar
2 Nano-ölçekte seyreden malzemelerin optik, elektronik, kimyasal ve mekanik özelliklerinin görüntüleme ve algılamasında kullanılan platformlar
3 Kompozit yüzey analizi: X-ray Fotoelektron Spektroskopi (XPS), İkincil iyon Kütle Spektroskopi (SIMS), Auger Elektron Spektroskopi
4 Yüzey karakterizasyonu ve yüzey geriliminin yüzey gerilim ölçüm aleti ile belirlenmesi
5 Işık ve electron mikroskobunun temel prensipleri
6 Işık mikroskobu: Optik mikroskop, Fluorescence Mikroskop, Aynı Odaklı Mikroskop
7 Elektron Mikroskop: TEM, SEM
8 Prop teknikleri: STM, AFM, SNOM
9 İyon Demeti Teknikleri: LEISS, RBS
10 Titremeli Spektroskopi: Kızılötesi ve Raman spektroskopi
11 Absorpsiyon ve Rezonans Absorpsiyon Spektroskopileri: NMR
12 Elektrokimyasal Teknikler: Voltametrik teknikler, AC Alternatif Dienç Analizi
13 Karakterizasyon stratejileri, Problem analizi, Değişik teknikler ile çözünürlük ve ölçüm limitleri
14 Yöntem seçimi, Modelleme sonuçları, Data analizi.
Kaynaklar
Ders Notu
Ders Kaynakları

1.Robert Vajtai (Ed.), Handbook of Nanomaterials,Springer 2013.

2. Alford, T.L., Feldman, F.C., Mayer, J.W., Fundamentals of Nanoscale Film Analysis, Springer, 2007.

3. Dinardo, N.J., Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces. 2nd ed., Wiley-VCH. 2004.

4. Golstein, J., Scanning Electron Microscopy and X-Ram Microanalysis. 3rd ed., Springer, 2003. 

5. Watts, J.F., An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, Wiler 2003.

6. Wang, Z.L., Characterization of Nanophase Materials. Wiley-VCH, 2000.

7. Weinheim, E.L., X-ray characterization of materials, Wiley-VCH, 1999.

Sıra Program Çıktıları Katkı Düzeyi
1 2 3 4 5
1 Yaşadığı toplumun bilgi toplumu olmasına katkıda bulunmak, toplumsal, bilimsel, kültürel ve etik sorunlara çözüm sunmak amaçlarıyla alanındaki bilimsel, teknolojik, sosyal veya kültürel ilerlemeleri ulusal ve uluslararası bilimsel ortamlarda (toplantılarda) tanıtır.
2 Alanında bilimsel araştırma yaparak bilgiye genişlemesine ve derinlemesine ulaşır, alanında güncel teknik ve yöntemler ile bunların kısıtları hakkında kapsamlı bilgiye sahip olup ve elde ettiği bilgiyi değerlendirir, yorumlar ve uygular.
3 Alanı ile ilgili problemleri tanımlar ve formüle eder, yeni ve/veya özgün fikir ve yöntemler geliştirir; karmaşık sistem veya süreçleri tasarlar ve tasarımlarında yenilikçi/alternatif çözümler ile gelişmekte olan yenilikçi yöntemleri kullanır.
4 Kuramsal, deneysel ve modelleme esaslı araştırmaları tasarlar ve uygular, belirsiz, sınırlı ya da eksik verileri bilimsel yöntemlerle tamamlar; verilerin toplanması, yorumlanması, duyurulması aşamalarında ve mesleki tüm etkinliklerde toplumsal, bilimsel ve etik değerleri gözetir.
5 Alanındaki uygulamaların sosyal, çevresel, sağlık, güvenlik, hukuki boyutlarını ve iş hayatı uygulamalarını bilir ve bunların getirdiği kısıtların farkındadır. Disiplin içi ve çok disiplinli takımlarda etkin bir biçimde birlikte ve ya bağımsız çalışabilir ve sorumluluk alır.
6 Malzeme ve ilgili prosesleri ve/veya olayları nano ölçekte inceler.
Değerlendirme Sistemi
Yarıyıl Çalışmaları Katkı Oranı
1. Ödev 100
Toplam 100
1. Yıl İçinin Başarıya 50
1. Final 50
Toplam 100
AKTS - İş Yükü Etkinlik Sayı Süre (Saat) Toplam İş Yükü (Saat)
Ders Süresi (Sınav haftası dahildir: 16x toplam ders saati) 16 3 48
Sınıf Dışı Ders Çalışma Süresi(Ön çalışma, pekiştirme) 25 3 75
Ara Sınav 1 3 3
Ödev 1 20 20
Final 1 3 3
Toplam İş Yükü 149
Toplam İş Yükü / 25 (Saat) 5,96
Dersin AKTS Kredisi 6